专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种坏点的检测方法和装置-CN202210529149.3在审
  • 陈柏钦 - 深圳市宏瀚微电子有限公司
  • 2022-05-16 - 2022-09-02 - H04N5/367
  • 本发明公开了一种坏点的检测方法,该方法包括:检测前一帧图像的疑似坏点;根据当前帧图像,利用运动背景判断疑似坏点是否为真实的坏点;把坏点标记值写入已知坏点的存储,并在下一帧图像当作静态坏点进行处理;本发明还公开了一种坏点的检测装置,该装置包括检测单元、计算单元和判断单元。本发明通过在前一帧找出比较突兀的图像强边界,标记为疑似的坏点区域,然后在接下去的一帧利用前后帧运动图像差值较大,而坏点变化较小的特点,识别出真实的坏点,是一种基于图像内容变化进行实时地坏点检测的方法,大大降低了坏点检测误差,而且能够检测出图像中大块的坏点,并兼顾了节省硬件资源的需求,易于推广应用。
  • 一种检测方法装置
  • [发明专利]一种校正坏点的方法、装置、终端及计算机可读存储介质-CN202111409731.8在审
  • 黄晟;方磊;周宇;马庆 - 武汉高德智感科技有限公司
  • 2021-11-25 - 2023-05-30 - H04N25/60
  • 本发明实施例公开了一种校正坏点的方法、装置、终端和计算机可读存储介质,该方法包括:判断初始图像的疑似坏点;得到第一疑似坏点表;由实时生成的相邻前后两帧图像得到第二疑似坏点表;基于当前的第一疑似坏点表与第二疑似坏点疑似坏点的非重复区域对的第一疑似坏点表进行更新;重复执行上述步骤,得到最终的第一疑似坏点表进行坏点校正。本方案,基于成像设备生成的图像坏点在运动过程与正常像素点之间的表现差异,以图像识别与处理的方式定位坏点的位置,进而对坏点进行校正,实现了自动校正,不需要手动操作,实时性高,节省时间;且不受对成像设备进行坏点校正的操作条件限制
  • 一种校正方法装置终端计算机可读存储介质
  • [发明专利]坏点检测及校正装置-CN201911418162.6有效
  • 朱煜枫;田景军;詹进;朱媛媛;潘昱 - 上海富瀚微电子股份有限公司
  • 2019-12-31 - 2021-07-16 - H04N17/00
  • 本发明提供了一种坏点检测及校正装置,包括:数据输入单元、增益补偿单元、坏点检测强度单元、多个坏点检测单元、坏点检测融合单元和校正单元;所述数据输入单元用于输入图像信息;所述增益补偿单元用于多个通道的增益补偿;所述坏点检测强度单元用于输送逻辑值为0或者1的控制参数;所述坏点检测单元接收所述控制参数并且检测增益补偿后的图像数据是否有坏点;所述坏点检测融合单元将多个所述坏点检测单元的检测结果进行融合并输出坏点信息;所述校正单元对所述坏点信息进行校正。在本发明提供的坏点检测及校正装置,图像的静态坏点和动态坏点在单一坏点和双坏点簇两种情形下的坏点检测和校正功能。
  • 检测校正装置
  • [发明专利]坏簇检测方法及装置-CN201710933097.5有效
  • 郭慧;姚毅 - 凌云光技术股份有限公司
  • 2017-10-10 - 2020-12-22 - H04N17/00
  • 本发明实施例提供了一种坏簇检测方法及装置,本发明实施例按照预定顺序,针对每个目标坏点检测与其接触的右侧和下侧的像元是否存在坏点,如果存在坏点,则将检测出来的所有坏点作为一个级别的待检测目标坏点,并对每个待检测目标坏点检测与其接触的右侧、下侧及左侧的像元是否存在坏点,如果存在坏点,将检测出来的坏点作为另一个级别的待检测目标坏点,并对另一级别的每个待检测目标坏点执行与上一级别的待检测目标坏点相同的检测步骤,直到某一级别的待检测目标坏点的检测没出现新坏点,最后根据检测得到坏点总数判断当前目标坏点的坏簇是否形成。此方案只需一次扫描就可检测出所有坏点,处理的数据量大幅度减小,有效提高了检测效率。
  • 检测方法装置
  • [发明专利]一种坏点遮盖方法和系统-CN201410631943.4有效
  • 任立;李国新;吴大斌 - 广东中星微电子有限公司
  • 2014-11-11 - 2019-06-21 - H04N5/21
  • 本发明实施例提供一种坏点遮盖方法和系统,解决了现有技术由于芯片内SRAM的大小有限,而使得坏点表存储受限,以及芯片制造成本增加的问题。该坏点遮盖方法包括:将坏点表存储在芯片外部存储器;从所述芯片外部存储器读取所述坏点坏点坐标存入芯片内部存储器;根据所述芯片内部存储器存储的坏点坐标,对落入所述坏点坐标的显示数据进行遮盖处理;清除所述芯片内部存储器已完成遮盖处理的坏点坐标;继续从所述芯片外部存储器读取坏点坐标存入所述芯片内部存储器已清除的存储空间。
  • 一种遮盖方法系统
  • [发明专利]一种显示屏坏点检测系统及其检测方法-CN202110144849.6在审
  • 杜钰颖 - 深圳市博领科技电子有限公司
  • 2021-02-02 - 2021-06-15 - G06F3/041
  • 本申请涉及一种显示屏坏点检测系统及其检测方法,其系统包括:启动模块,用于检查显示屏是否存在坏点问题,若存在坏点问题,则生成启动信息并发出;检测模块,用于接收启动信息,并检测显示屏坏点问题对应的触控区域,形成坏点信息并发出;截停模块,用于接收坏点信息,形成截停信息;纠错模块,用于接收坏点信息,提取坏点信息坏点问题,根据坏点问题获取纠错措施,形成纠错信息并发出;维护模块,用于接收纠错信息,根据纠错信息的纠错措施修复坏点问题;校验模块,用于校验显示屏是否还存在坏点问题;若未存在坏点问题则完成检测;若仍存在坏点问题,形成重启信息并发送至检测模块,直至检测结束。
  • 一种显示屏检测系统及其方法
  • [发明专利]图像坏点矫正方法及相关装置-CN201610803847.2有效
  • 杨艺;刘海军;谢森 - 凌云光技术集团有限责任公司
  • 2016-09-05 - 2019-04-26 - H04N5/357
  • 本申请提供一种图像坏点矫正方法及相关装置,其根据图像传感器的坏点坐标确定各个像素点的属性值,并将该各个像素点的属性值作为坏点信息存储至外部存储器;在图像传感器输出成像图像时,从上述外部存储器读取各个像素点的属性值,并根据该属性值及预设矫正算法,完成对所述成像图像坏点的矫正。本申请通过外部存储器来存储坏点信息,可以满足高分辨率、多坏点的图像传感器的坏点信息存储需求;由于该外部存储器的读取速度不小于预设速度,可以保证图像处理芯片对坏点信息的加载速度;本申请以预先根据坏点坐标所确定的属性值为坏点信息,可以减少预设矫正算法执行过程的数据处理量,从而提高坏点矫正效率,保证坏点矫正的实时性。
  • 图像矫正方法相关装置
  • [发明专利]红外图像的坏点检测和坏点补偿的改进方法及装置-CN202310446089.3在审
  • 严伟;时广轶;刘靖远;李志国;张浩 - 北京大学
  • 2023-04-24 - 2023-09-29 - H04N25/68
  • 本发明公布了一种红外图像的坏点检测和坏点补偿的改进方法及装置,装置包括:图像输入模块、参数计算模块、图像校正模块、坏点补偿模块和图像输出模块。通过对增益参数和偏移量参数的边界判断,检测红外图像热辐射与图像像素值之间线性程度不佳的像素点;设计基于边缘扩散的坏点补偿方法,针对视频流序列的连通区域中心坏点,从区域边缘不断进行坏点补偿。本发明采用改进的红外图像坏点检测判断方法和基于边缘扩散的坏点补偿方法,对于盲元和过热元检测方法无法检出的部分坏点具有较好的检测效果,可以提升红外图像的校正质量;在连续视频流图像应用场景下对坏点连通区域内部具有较好的坏点补偿效果
  • 红外图像检测补偿改进方法装置
  • [发明专利]一种生成设计版图坏点检测模型的方法及检测坏点的方法-CN202010261917.2在审
  • 盖天洋;韦亚一;粟雅娟;陈颖 - 中国科学院微电子研究所
  • 2020-04-05 - 2020-08-25 - G06K9/62
  • 本发明涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种生成设计版图坏点检测模型的方法及检测坏点的方法,该生成设计版图坏点检测模型的方法包括:基于已知版图中已标记的坏点位置,获得潜在坏点的规律;基于潜在坏点的规律,从已知版图的坏点位置中提取第一切片图形并对第一切片图形进行扩充,获得坏点样本集合;从已知版图中除坏点位置之外的其他版图位置,提取第二切片图形并对第二切片图形进行筛选,获得非坏点样本集合;对坏点样本集合和非坏点样本集合进行特征提取,获得第一特征向量;将第一特征向量作为训练数据,输入分类器模型中进行训练,得到对坏点和非坏点进行分类的坏点分类模型,通过训练好的坏点分类模型辨别出坏点图形,提高检测效率。
  • 一种生成设计版图检测模型方法
  • [发明专利]一种坏点测量数据辨识方法-CN202110130201.3在审
  • 潘旭;陈伟博;杨龙龙 - 中国航发沈阳发动机研究所
  • 2021-01-29 - 2021-06-04 - G06Q10/06
  • 本申请属于坏点测量数据辨识技术领域,具体涉及一种坏点测量数据辨识方法,包括:基于余差分析方法,辨识测量数据的第一类坏点测量数据,其中,第一类坏点测量数据为测量数据相对真值有较大偏差,数值随状态变化波动较小的数据;剔除第一类坏点测量数据,基于灰色理论方法,辨识测量数据的第二类坏点测量数据,其中,第二类坏点测量数据为测量数据相对于真值存在一定偏差,数值随发动机状态发生变化的数据。
  • 一种测量数据辨识方法
  • [发明专利]一种四原色显示屏坏点的修复方法-CN202110847893.3有效
  • 林岳;黄伟志;郭伟杰;陈华山;蔡宗建;伍熙阳;吴挺竹 - 厦门大学
  • 2021-07-27 - 2023-06-09 - G09G3/00
  • 一种四原色显示屏坏点的修复方法,涉及显示屏坏点的修复。1)设计一种四原色像素排列方案,使每个子像素周围具有一个相同颜色的子像素,以确保子像素出现坏点时,能借用周围相同颜色的子像素完成显示;2)计算人眼在一定距离下对像素点的分辨极限;3)利用光学仿真软件搭建显示阵列以及探测平面,显示阵列模拟带有坏点子像素屏幕的显示效果,探测平面以坏点为中心,设置在显示阵列坏点的近表面处,沿水平方向和竖直方向移动探测平面,记录覆盖区域内的光通量;4)拟合光学仿真软件的数据,模拟没有坏点下探测平面移动光通量的变化,改变坏点周围子像素的光通量权重,实现坏点修复。降低坏点带来的影响,修复方法更加快速便捷。
  • 一种原色显示屏修复方法

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